紅外線熱影像分析技術研討會

紅外線熱影像分析技術研討會

紅外線熱影像分析技術研討會

 

時間:2015年 05 月 13日 (三) 16:00-19:00。

 

地點:國立暨南國際大學 科技學院 科四館219-1 室。

 

名額:30名,座位有限,請提早報名。

 

費用:學生免費;聯盟會員前兩名免費;企業界非會員1500元/人。

 

聯絡人:

 

       楊孟穎 小姐 國立暨南國際大學 電機工程學系  

 

       Email:Email住址會使用灌水程式保護機制。你需要啟動Javascript才能觀看它 電話:(049)291-0960#4102

                                      議程

日期

時間

主題

地點

演講授課者

104.05.13

(三)

16:00~16:10

開幕式

科四館219-1室

聯盟召集人:

陳建亨 教 授

聯盟共同召集人:

程德勝 教 授

16:10~16:30

紅外線和熱影像基本概述

主講人:

台灣是德科技公司

吳龍熙先生 Aaron Wu

 

弘準科技有限公司

楊澤中 經理

16:30~17:00

熱影像儀的技術應用及市場

17:00~17:10

Break

17:10~17:40

Keysight熱影像儀的特色及功能

17:40~18:10

實機操作

18:10~18:40

Q&A

18:40~19:00

Coffee break

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

主辦單位:國立暨南國際大學

 

          科技學院 電機工程學系

 

          研發處 創業育成中心

 

          奈米壓印及生物感測技術應用產學聯盟

 

 協辦單位:弘準科技有限公司

           台灣是德科技公司

 

 

                     紅外線熱影像分析技術研討會

 

                              報名表

 

 

 

基本資料

   

 

性別

 

服務單位

 

職稱

 

聯絡地址

□□□

聯絡電話

(公司)                     (手機)                      

E-mail

 

 

報名方式

 

請回傳報名表至聯絡信箱(報名期限至開課前一天15:00為止。)

 

  1. 聯絡窗口:楊孟穎
  2. 聯絡電話:(049)291-0960#4102
  3. 聯絡信箱:Email住址會使用灌水程式保護機制。你需要啟動Javascript才能觀看它

 

注意事項:

 

報名額滿為止,基本資料請務必填寫完整,

 

聯盟將在會議前,以e-mail方式寄發會議通知,或電話聯絡確認。

 

   如有任何問題,歡迎來信()詢問。

 

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